CMOS測試和校準

傳感器和成像儀校準

標定CMOS，通常將待測物放于積分球的出口，并且需要屏蔽積分球內(nèi)燈的直接照射。積分球開口端光源是通過多次漫反射間接提供的，從而使其有效區(qū)暴露在一個均勻輻照度下。

積分球出口處的照度是經(jīng)校準的，在測試過程中，連接在積分球上的監(jiān)測探測器通過輻射計給出照度讀數(shù)。評估設備對已知均勻照度的響應，以驗證是否符合規(guī)范，或識別和糾正工藝問題。

在這種方法中可以使用不同類型的光源。積分球可以用調(diào)節(jié)的白熾燈照明，或者光源可以設計成模擬特定的光譜分布，例如平均日光。積分球也可與單色儀耦合，用于光譜表征。

Labsphere的均勻光源積分球和積分球均勻光源系統(tǒng)可測試用于光伏或光導應用的半導體晶圓和器件的響應性和/或量子效率。